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在半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中,檢測是提升良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要針對晶圓上的物理缺陷和圖案缺陷。光學(xué)檢測憑借非接觸、快速和低成本的優(yōu)勢成為主流方案,而光源的性能直接影響檢測效率與可靠性--高亮度、高穩(wěn)定和多波長選擇缺一不可。
傳統(tǒng)鹵素?zé)粢驂勖蹋?lt;1000小時)、亮度不足、紫外波段覆蓋差且面臨環(huán)保淘汰,已無法滿足需求。Revox的SLG系列光纖光源以超高亮度、>2萬小時超長壽命和紫外到紅外的多波長覆蓋,成為半導(dǎo)體、顯示及PCB檢測的理想選擇,助力客戶實現(xiàn)更高效、穩(wěn)定的檢測流程。


短波長、高精度(SLG-150V-UV系列)

經(jīng)濟之選(SLG-150V/165V系列)


多端口、分時頻閃(SLG-150HSP系列)

超亮、自由混光(SLG-450系列)


旗艦、超亮之選(SLG-600V2系列)


更強的穿透性(SLG-150V-NIR系列)

支持1024級調(diào)光,獨特校正功能,實現(xiàn)調(diào)光線性

環(huán)境適應(yīng)性強,亮度波動≤±3%

智能照度反饋,維持恒定光輸出

注:SLG-150/165系列需選配;SLG-450/SLG-600系列標配
可選或定制點、環(huán)、線、面等光波導(dǎo)

超亮白光搭配線掃TDI相機,顯著縮短曝光時間,大幅提升晶圓掃描效率

紅外高穿透特性,直達內(nèi)部缺陷

突破可見光極限,微痕精準成像

單工位實現(xiàn)3種光場成像,多類缺陷檢出

2015-04-29
2025-07-08
2022-11-17
2015-05-05
2021-06-07