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在半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中,檢測(cè)是提升良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要針對(duì)晶圓上的物理缺陷和圖案缺陷。光學(xué)檢測(cè)憑借非接觸、快速和低成本的優(yōu)勢(shì)成為主流方案,而光源的性能直接影響檢測(cè)效率與可靠性--高亮度、高穩(wěn)定和多波長(zhǎng)選擇缺一不可。
傳統(tǒng)鹵素?zé)粢驂勖蹋?lt;1000小時(shí))、亮度不足、紫外波段覆蓋差且面臨環(huán)保淘汰,已無(wú)法滿足需求。Revox的SLG系列光纖光源以超高亮度、>2萬(wàn)小時(shí)超長(zhǎng)壽命和紫外到紅外的多波長(zhǎng)覆蓋,成為半導(dǎo)體、顯示及PCB檢測(cè)的理想選擇,助力客戶實(shí)現(xiàn)更高效、穩(wěn)定的檢測(cè)流程。


短波長(zhǎng)、高精度(SLG-150V-UV系列)

經(jīng)濟(jì)之選(SLG-150V/165V系列)


多端口、分時(shí)頻閃(SLG-150HSP系列)

超亮、自由混光(SLG-450系列)


旗艦、超亮之選(SLG-600V2系列)


更強(qiáng)的穿透性(SLG-150V-NIR系列)

支持1024級(jí)調(diào)光,獨(dú)特校正功能,實(shí)現(xiàn)調(diào)光線性

環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng),亮度波動(dòng)≤±3%

智能照度反饋,維持恒定光輸出

注:SLG-150/165系列需選配;SLG-450/SLG-600系列標(biāo)配
可選或定制點(diǎn)、環(huán)、線、面等光波導(dǎo)

超亮白光搭配線掃TDI相機(jī),顯著縮短曝光時(shí)間,大幅提升晶圓掃描效率

紅外高穿透特性,直達(dá)內(nèi)部缺陷

突破可見光極限,微痕精準(zhǔn)成像

單工位實(shí)現(xiàn)3種光場(chǎng)成像,多類缺陷檢出

2015-04-29
2025-07-08
2022-11-17
2015-05-05
2021-06-07